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1.脈沖電流的熱效應(yīng)與機(jī)械疲勞
脈沖電流會(huì)在熔斷器內(nèi)部產(chǎn)生熱循環(huán)（ThermalCycling），導(dǎo)致以下影響：
熱應(yīng)力積累：每次脈沖電流通過時(shí)，熔斷器的熔絲會(huì)因焦耳熱（I2R）而升溫，隨后冷卻，反復(fù)的熱脹冷縮會(huì)導(dǎo)致材料疲勞。
機(jī)械疲勞：長(zhǎng)期的熱循環(huán)可能使熔斷體內(nèi)部結(jié)構(gòu)逐漸劣化，最終影響其熔斷特性和使用壽命。
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2.脈沖I2T與熔斷器額定I2T的關(guān)系
熔斷器的設(shè)計(jì)需確保脈沖I2T值遠(yuǎn)小于其標(biāo)稱熔斷I2T值（即熔斷器熔斷所需的熱能量）。兩者的比值U決定了熔斷器能承受的脈沖次數(shù)：
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可承受脈沖次數(shù) | U=脈沖I2T/熔斷器I2T（%） |
100,000次 | ≤20% |
10,000次 | ≤30% |
1,000次 | ≤40% |
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關(guān)鍵說明：
U值越小，熔斷器能承受的脈沖次數(shù)越多，壽命越長(zhǎng)。
脈沖間隔必須足夠長(zhǎng)，以確保前一次脈沖產(chǎn)生的熱量充分散逸，避免累積效應(yīng)導(dǎo)致過早失效。
3.典型脈沖波形的I2T近似計(jì)算公式
矩形波（Square）：I2T=Ip2.t
三角波（Triangular）：I2T=?Ip2.t
指數(shù)衰減波（Exponential）： I2T=?Ip2.t
注：Ip=脈沖峰值電流,t=脈沖持續(xù)時(shí)間
4.設(shè)計(jì)建議
選擇恩彼邁跌落式熔斷器時(shí)：需根據(jù)實(shí)際脈沖電流的I2T值，確保其不超過熔斷器標(biāo)稱I2T的20%~40%（具體取決于所需壽命）。
散熱要求：在高頻脈沖應(yīng)用中，需保證足夠的冷卻時(shí)間，或選用散熱性能更好的熔斷器。
驗(yàn)證測(cè)試：對(duì)于關(guān)鍵電路，建議通過實(shí)際脈沖老化測(cè)試驗(yàn)證熔斷器的耐久性。
5.結(jié)論
脈沖電流是影響熔斷器壽命的關(guān)鍵因素，設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)嚴(yán)格控制脈沖I2T與熔斷器I2T的比值（U），并確保足夠的散熱時(shí)間。通過合理選型和計(jì)算，可顯著提升熔斷器在脈沖負(fù)載下的可靠性。
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